Xstress DR45新一代X射線殘余應力分析儀，采用了最新探測器技術，使測量速度更快、精度更高，數據更可靠。分析儀界面直觀、簡捷，全新支持軟件與全新技術相結合，可提高工作效率。

探測器組

• 1D、2D探測器，2個
• 量子效率5keV時，>95%
• 256 x 256像素
• 無暗電流
• 探測器弧45mm；探測器2θ角可調

軟件（Xstress Studio）

• 測量控制
• 數據分析
• 測量可視化
• 硬件測量控制
• 硬件操作控制：探測器、直流電機、電源、快門、安全互鎖功能、電壓和電流等。
• 使用零應力粉末樣品進行自動校準，以設置衍射儀與樣品間的距離
• 深度分布測量和各種應力分布圖測量項目管理
• 材料參數庫功能

Xstress DR45用于制造業

• 快速測量，甚至適用于生產領域
• 操作員易于使用的軟件
• 可用于頻繁測量的模板

Xstress DR45用于實驗室

• 可進行多種計算，包括線性和橢圓回歸，Dölle-Hauk，應力張量和主應力等功能。峰擬合功能包括互相關，拋物線，高斯，洛倫茲，修改的洛倫茲，中間洛倫茲，皮爾遜VII，偽Vogt，Voigt，質心，居中質心，重心滑動和中弦。
• 可測量不同尺寸和形狀的零件的巨大差異
• 輕松快捷地更換X射線管

Xstress DR45現場使用

• 快速組裝，可在10分鐘內使用
• 衍射儀和Xstress MU的穩健設計
• 可在不平坦的表面上進行測量；用磁腳固定在不同的位置。